财联社4月22日电，芯片为什么会在长期使用中悄然“变慢”甚至失效？这一困扰微电子领域多年的问题，如今有了答案。据最新一期《物理评论B》报道，美国加利福尼亚大学圣巴巴拉分校材料系研究团队揭示了一种关键量子机制，即高能电子如何在芯片内部打断化学键，从而在长期运行中悄然损伤器件性能。这一发现不仅解释了一些数十年来未解的实验现象，也为设计更可靠的电子器件提供了新思路。